SJ/Z 2321-1983 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-23 15:13:02
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基本信息
| 标准名称： | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 |
| 英文名称： | Method of analysis by emission spectrum of impurities in Zirconium oxide for use in electronic ceramics |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| 替代情况： | 被SJ/T 10553-1994代替 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2000-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 3页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
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